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涂層測(cè)厚儀的測(cè)量原理介紹

更新時(shí)間:2024-01-31  |  點(diǎn)擊率:2078
  涂層測(cè)厚儀可*損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。
  涂層測(cè)厚儀的測(cè)量原理:
  1、磁性法當(dāng)測(cè)頭與覆層接觸時(shí),測(cè)頭與磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆層的存在,使磁路磁阻發(fā)生變化,通過測(cè)量其變化量,可測(cè)得其覆層的厚度。
  2、渦流法利用高頻交變電流線圈中產(chǎn)生一磁場(chǎng),當(dāng)測(cè)頭與金屬接觸時(shí),金屬基體上會(huì)產(chǎn)生渦流,并對(duì)測(cè)頭具有反饋?zhàn)饔茫ㄟ^其反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓽y(cè)出覆層厚度。
  涂層測(cè)厚儀作為調(diào)零用的外表面須要盡量維持光滑,假如外表面不光滑,該當(dāng)視狀況取平均值,由于外表面粗糙度對(duì)測(cè)量的數(shù)值影響較大。構(gòu)造不同應(yīng)分別實(shí)行調(diào)零測(cè)量,平面調(diào)零側(cè)臉平面,測(cè)量凹面調(diào)零后測(cè)量,測(cè)量凸面調(diào)零后實(shí)行測(cè)量,防止因?yàn)闃?gòu)造不同而在測(cè)量上發(fā)生誤差。